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多重曝光和多帧平均在OLED检测中的应用

2019/10/28 16:08:03      点击:

       针对OLED(以及mini LED/micro LED)面板模组对工业相机的特殊需求,荷兰高性能工业相机制造商Adimec公司在新推出的D65A35D12A09相机中增加了多重曝光和多帧平均功能。

   多重曝光主要用于OLED(以及mini LED/micro LED)亮屏的检测,用于消除图像上因OLED屏刷新产生的条纹。

iphone Xs为例。该屏的刷新时间是8.33ms。OLED屏的检测需要在不同亮度下拍很多图像,当屏幕亮度非常高的时候,为了防止过曝需要的曝光时间就非常短。例如当曝光时间设置为3ms(3/8的刷新时间)的时候,就会出现条纹。

    多重曝光的功能可以让相机在3ms的时间内实现多重曝光。例如,在3ms的曝光时间内实现200次每次15μs的曝光,相机芯片实际输出一张图像。

    多帧平均功能早年常用于X光成像的应用中用于消除X光片上的噪声。在OLED的检测中主要用于暗屏mura的检测。由于暗屏mura的信号非常弱,图像上灰阶的差异很难被软件算法识别出来。OLED的检测中,为了检测出mura就需要放大信号(调高增益)。但是调高增益放大信号的同时也会放大mura周围噪声的信号。通过多帧平均可以消除掉图像上大部分随机的瞬态的噪声。如下图在16帧平均以后图像。可以看到整体图像的噪声更低,图像更均匀,mura更明显。通过多帧平均可以极大的消除图像上噪声对测量结果的影响。对暗场mura的检测效果非常明显。